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    包郵 關(guān)注:577

    Semishare FA系列失效分析探針臺(tái)

    產(chǎn)品品牌

    semishare(森美協(xié)爾)

    規(guī)格型號(hào)：

    FA-8/FA-8-SC

    發(fā)貨期限：

    面談天

    庫(kù)       存：

    10

    產(chǎn)       地：

    中國(guó)

    數(shù)       量：

    減少 增加

    價(jià)       格：

    面議
    交易保障 擔(dān)保交易 網(wǎng)銀支付

    品牌：semishare(森美協(xié)爾)

    型號(hào)：FA-8/FA-8-SC

    所屬系列：半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備-電學(xué)性能測(cè)試-手動(dòng)探針臺(tái)

    詳情請(qǐng)咨詢趙經(jīng)理 15323433820

    應(yīng)用方向：常溫和高低溫環(huán)境下的芯片失效分析

    特點(diǎn)
    失效分析實(shí)驗(yàn)室專(zhuān)用
    大手柄驅(qū)動(dòng)，操作舒適，無(wú)回程差設(shè)計(jì)，定位準(zhǔn)確
    可做LC液晶熱點(diǎn)偵測(cè)
    激光最小可加工精度1*1um
    激光可選擇性去除特定材料而不損傷下層
    芯片內(nèi)部線路/電極/PAD測(cè)試
    適用于IC/面板內(nèi)部線路修改/去層 射頻特性器件失效分析
    可升級(jí)用于12英寸以內(nèi)樣品測(cè)試
    材料/器件的IV/CV特性測(cè)試及失效分析 

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    4006988696

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