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    包郵 關(guān)注:2564

    半自動(dòng)探針臺(200 mm Semi-Auto Probe Station)

    產(chǎn)品品牌

    ADVANCED

    庫       存:

    50

    產(chǎn)       地:

    臺灣

    數       量:

    減少 增加

    價(jià)       格:

    面議
    交易保障 擔保交易 網(wǎng)銀支付

    品牌:ADVANCED

    型號:

    所屬系列:半導體測試設備-電學(xué)性能測試-半自動(dòng)探針臺


          半自動(dòng)探針臺(200 mm Semi-Auto Probe Station)

    八英電動(dòng)移動(dòng)平臺

    X-Y-Z-R移動(dòng)行程分別為200mm/200mm/30mm/15degree

    X-Y-Z移動(dòng)精度1um;R:0.01degree

    機臺由PC控制,軟件可以建立wafer map

    系統可以根據工程人員建立的wafer map自動(dòng)點(diǎn)針

    系統可以搭配高倍顯微鏡和體式顯微鏡兩種光學(xué)系統

    光學(xué)部分搭配100萬(wàn)象素的數字CCD

    系統具有自動(dòng)校驗功能

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    應用于半導體行業(yè)的相關(guān)同類(lèi)產(chǎn)品:

    服務(wù)熱線(xiàn)

    4001027270

    功能和特性

    價(jià)格和優(yōu)惠

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