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    膜厚測(cè)試儀 寧豐凱電子

    庫(kù)       存:

    100

    產(chǎn)       地:

    全國(guó)

    數(shù)       量:

    減少 增加

    價(jià)       格:

    面議
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    膜厚測(cè)試儀

     

    2D非接觸式掃描系統(tǒng) 適用于厚膜印刷,混成電路(Hybrid Circuit),BGA,TAB FLIP/CHIP,SOLDER BUMPING 厚度量測(cè),SMT印刷錫膏量測(cè)。激光非接觸式量測(cè),干膜及濕膜皆可量測(cè)。0.125um動(dòng)態(tài)高分辨率,量測(cè)精度達(dá)1um,可量測(cè):

    2D (y,z or x,z) 
    Height 
    Height (Avg)
    Length 
    Angle 
    Angle (Planar)
    Center 
    Roughness
    Radius (Avg, Max, RMS, Rz)

     


    2D/3D
    非接觸式掃描系統(tǒng),PCB 基板變型量,半導(dǎo)體組件及晶圓質(zhì)量檢驗(yàn), Copper銅箔厚度及粗糙度,Solder Mask防焊綠漆與Silkscreen厚度量測(cè),封裝凸塊檢測(cè) Bump InspectionDie Attachment平整度量測(cè)。 激光非接觸式量測(cè),干濕膜皆可量??稍O(shè)定多點(diǎn)自動(dòng)量測(cè),提供分析結(jié)果。適用于厚膜印刷,混成電路(Hybrid Circuit),BGA,TAB FLIP CHIP 之厚度量測(cè)。可量測(cè)參數(shù):

     

    3D(x,y,z) 2D (y,z or x,z) 

    Height Height (Avg)

    Length Volume

    Angle Angle (Planar)

    Center Roughness

    Radius (Avg, Max, RMS, Rz)

             ※Roughness (Avg, Max,RMS, Rz)

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