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膜厚測(cè)試儀
2D非接觸式掃描系統(tǒng) 適用于厚膜印刷,混成電路(Hybrid Circuit),BGA,TAB 及 FLIP/CHIP,SOLDER BUMPING 厚度量測(cè),SMT印刷錫膏量測(cè)。激光非接觸式量測(cè),干膜及濕膜皆可量測(cè)。0.125um動(dòng)態(tài)高分辨率,量測(cè)精度達(dá)1um,可量測(cè):
※2D (y,z or x,z)
※Height
※Height (Avg)
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※Angle
※Angle (Planar)
※Center
※Roughness
※Radius (Avg, Max, RMS, Rz)
2D/3D非接觸式掃描系統(tǒng),PCB 基板變型量,半導(dǎo)體組件及晶圓質(zhì)量檢驗(yàn), Copper銅箔厚度及粗糙度,Solder Mask防焊綠漆與Silkscreen厚度量測(cè),封裝凸塊檢測(cè) Bump Inspection、Die Attachment平整度量測(cè)。 激光非接觸式量測(cè),干濕膜皆可量??稍O(shè)定多點(diǎn)自動(dòng)量測(cè),提供分析結(jié)果。適用于厚膜印刷,混成電路(Hybrid Circuit),BGA,TAB 及 FLIP CHIP 之厚度量測(cè)。可量測(cè)參數(shù):
※3D(x,y,z) 2D (y,z or x,z)
※Height ※Height (Avg)
※Length ※Volume
※Angle ※Angle (Planar)
※Center ※Roughness
※Radius (Avg, Max, RMS, Rz)
※Roughness (Avg, Max,RMS, Rz)購(gòu)買之前,如有問(wèn)題,請(qǐng)向我們咨詢