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    SCD-1500型半導(dǎo)體C-V特性分析儀

    應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè):

    半導(dǎo)體測試設(shè)備

    庫       存:

    11

    產(chǎn)       地:

    全國

    數(shù)       量:

    減少 增加

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    111111.00
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    品牌:

    型號:

    所屬系列:半導(dǎo)體測試設(shè)備

    SCD-1500型半導(dǎo)體C-V特性分析儀

    關(guān)鍵詞:半導(dǎo)體,C-V特性,集成電路

    SCD-1500型半導(dǎo)體C-V特性分析儀創(chuàng)新性地采用了雙CPU架構(gòu)、Linux底層系統(tǒng)、10.1英寸電容式觸摸屏、中英文操作界面、內(nèi)置使用說明及幫助等新一代技術(shù),適用于生產(chǎn)線快速分選、自動化集成測試及滿足實驗室研發(fā)及分析。半導(dǎo)體C-V特性分析儀測試頻率為10kHz-2MHz,VGS電壓可達±40V,足以滿足二極管、三極管、MOS管及IGBT等半導(dǎo)體件CV特性測試分析。

    一、主要應(yīng)用范圍:

    半導(dǎo)體元件/功率元件
    二極管、三極管、MOSFET、IGBT、晶閘管、集成電路、光電子芯片等寄生電容測試、C-V特性分析

    半導(dǎo)體材料
    晶圓、C-V特性分析

    液晶材料
    彈性常數(shù)分析

    二、性能特點:

    通道:2(可擴展至6)

    高偏置:VGS:0 - ±40V,VDS:0–200V,1500V,3000V

    雙CPU架構(gòu),最短積分時間0.56ms(1800次/秒)

    10.1英寸電容式觸摸屏,分辨率1280*800,Linux系統(tǒng)

    點測、列表掃描、圖形掃描(選件)三種測試方式

    四寄生參數(shù)(Ciss、Coss、Crss、Rg)同屏顯示

    快速導(dǎo)通測試Cont

    一體化設(shè)計:LCR+高壓源+繼電器矩陣

    快速充電,縮短電容充電時間,實現(xiàn)快速測試

    自動延時設(shè)置

    10檔分選

    三、功能特點

    A.單點測試,10.1英寸大屏,四種寄生參數(shù)同屏顯示,讓細(xì)節(jié)一覽無遺

    10.1英寸觸摸屏、1280*800分辨率,Linux系統(tǒng)、中英文操作界面,支持鍵盤、鼠標(biāo)、LAN接口,帶來了無以倫比的操作便捷性。

    MOSFET最重要的四個寄生參數(shù):Ciss、Coss、Crss、Rg在同一個界面直接顯示測量結(jié)果,并將四個參數(shù)測試等效電路圖同時顯示,一目了然。

    多至6個通道測量參數(shù)可快速調(diào)用,分選結(jié)果在同一界面直接顯示。

    B.列表測試,靈活組合

    SCD-1500型半導(dǎo)體C-V特性分析儀支持最多6個通道、4個測量參數(shù)的測試及分析,列表掃描模式支持不同通道、不同參數(shù)、不同測量條件任意組合,并可設(shè)置極限范圍,并顯示測量結(jié)果 。

    C.曲線掃描功能(選件)

    SCD-1500型半導(dǎo)體C-V特性分析儀支持C-V特性曲線分析,可以對數(shù)、線性兩種方式實現(xiàn)曲線掃描,可同時顯示多條曲線:同一參數(shù)、不同Vg的多條曲線;同一Vg、不同參數(shù)多條曲線 。 

    C.曲線掃描功能(選件)

    SCD-1500型半導(dǎo)體C-V特性分析儀支持C-V特性曲線分析,可以對數(shù)、線性兩種方式實現(xiàn)曲線掃描,可同時顯示多條曲線:同一參數(shù)、不同Vg的多條曲線;同一Vg、不同參數(shù)多條曲線 。 

    D.簡單快捷設(shè)置 

    E.10檔分選及可編程HANDLER接口

    儀器提供了10檔分選,為客戶產(chǎn)品質(zhì)量分級提供了可能,分選結(jié)果直接輸出至HANDLER接口。

    在與自動化設(shè)備連接時,怎么配置HANDLER接口輸出,一直是自動化客戶的難題,TH510系列將HANDLER接口腳位、輸入輸出方式、對應(yīng)信號、應(yīng)答方式等完全可視化,讓自動化連接更簡單。 

    F.支持定制化,智能固件升級方式

    SCD-1500型半導(dǎo)體C-V特性分析儀客戶而言是開放的,儀器所有接口、指令集均為開放設(shè)計,客戶可自行編程集成或進行功能定制,定制功能若無硬件更改,可直接通過固件升級方式更新。

    儀器本身功能完善、BUG解決、功能升級等,都可以通過升級固件(Firmware)來進行更新,而無需返廠進行。

    固件升級非常智能,可以通過系統(tǒng)設(shè)置界面或者文件管理界面進行,智能搜索儀器內(nèi)存、外接優(yōu)盤甚至是局域網(wǎng)內(nèi)升級包,并自動進行升級 

    G.半導(dǎo)體元件寄生電容知識

    在高頻電路中,半導(dǎo)體器件的寄生電容往往會影響半導(dǎo)體的動態(tài)特性,所以在設(shè)計半導(dǎo)體元件時需要考慮下列因數(shù)在高頻電路設(shè)計中往往需要考慮二極管結(jié)電容帶來的影響;MOS管的寄生電容會影響管子的動作時間、驅(qū)動能力和開關(guān)損耗等多方面特性;寄生電容的電壓依賴性在電路設(shè)計中也是至關(guān)重要,以MOSFET為例。

     

    技術(shù)參數(shù)

    1、 通道:2通道(可擴展6通道)

    2、 顯示:液晶顯示,觸摸屏

    3、 測量參數(shù):C、L、X、B、R、G、D、Q、ESR、Rp、θ、|Z|、|Y|

    4、 測試頻率:10kHz-2MHz

    5、 精度:0.01%

    6、 分辨率:10mHz  1.00000kHz-9.99999kHz

    7、 電壓范圍:5mVrms-2Vrms

    8、 精度:±(10%×設(shè)定值+2mV)

    9、 VGS電壓±40V,準(zhǔn)確度:1%×設(shè)定電壓+8Mv,分辨率;1mV(0V-±10V)

    10、 VDS電壓:0 - 200V

    11、 精度:1%×設(shè)定電壓+100mV

    12、 1%×設(shè)定電壓+100mV

    13、 輸出阻抗:100Ω,±2%@1kHz


    14、 軟件:C-V特性曲線分析,對數(shù)、線性兩種方式實現(xiàn)曲線掃描高溫精密阻抗分析儀

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