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    包郵 關(guān)注:752

    芯茂科技-晶圓邊緣/V-notch形狀檢測 輪廓儀EGPRO-512

    應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)：

    半導(dǎo)體測試設(shè)備-表面形貌測試-表面輪廓儀

    庫       存：

    1

    產(chǎn)       地：

    全國

    數(shù)       量：

    減少 增加

    價(jià)       格：

    面議
    交易保障 擔(dān)保交易 網(wǎng)銀支付
     設(shè)備簡介

    以非接觸的自動(dòng)測量方式，對半導(dǎo)體襯底晶片倒角后的edge 和 notch 進(jìn)行形貌與尺寸進(jìn)行測定。

     

    特征

    ·設(shè)備可以對 2 英寸 wafer 到 12 英寸 wafer 進(jìn)行自動(dòng)測量。

    ·測量是在晶圓操作臺(tái)上以非接觸的方式進(jìn)行。

    ·可測定部分:邊緣，槽口（notch）和 OF 邊的長度（OPTION）

    ·搭載電腦控制系統(tǒng)，測量結(jié)果可保存在各種外部記憶媒體。

    ·具備 LAN 連接功能，測量數(shù)據(jù)可以隨時(shí)在 network 范圍內(nèi)查閱

     

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