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SEM/EDS測試

發(fā)表于:2017-02-15  作者:863test  關(guān)注度:1452

掃描電子顯微鏡+X射線(xiàn)能譜儀(SEM+EDS)

掃描電子顯微鏡利用二次電子或背散射電子成像,對樣品表面放大一定的倍數進(jìn)行形貌觀(guān)察,最大放大倍數可達30萬(wàn)倍,同時(shí)利用電子激發(fā)出樣品表面的特征X射線(xiàn)來(lái)對微區的成分進(jìn)行定性定量分析。

測試范圍:

SEM的二次電子成像分辨率約3nm

背散射電子成像分辨率約300nm

EDS成分分析的元素范圍BeU

分析深度約1μm

檢測下限約1%

空間分辨率約1μm

 

服務(wù)項目:

各種固體材料的形貌分析

微區化學(xué)成分檢測

樣品成分的線(xiàn)分布和面分布分析

商家資料

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服務(wù)熱線(xiàn)

4001027270

功能和特性

價(jià)格和優(yōu)惠

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