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    包郵 關(guān)注:658

    Wafer厚度測(cè)量設(shè)備

    產(chǎn)品品牌

    Effecttek易泛特

    庫(kù)       存：

    10

    產(chǎn)       地：

    中國(guó)-廣東省

    數(shù)       量：

    減少 增加

    價(jià)       格：

    面議
    交易保障 擔(dān)保交易 網(wǎng)銀支付

    品牌：Effecttek易泛特

    型號(hào)：

    所屬系列：半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備-測(cè)厚設(shè)備-非接觸式測(cè)厚儀

    型號(hào) ETM-1200
    外觀尺寸 760*500*500mm
    X、Y測(cè)量行程 200*200mm
    Z軸可調(diào)行程 1.6-100mm
    有效測(cè)量范圍 160*160mm
    掃描最少步距 1μm
    光斑直徑 18~30um
    橫向分辨率 9~15um
    檢測(cè)重復(fù)精度 0.1μm
    精度 ≤1um
    線性度 ?0.1%
    軸向分辨率 30nm
    與表面角度 90°±2°
    測(cè)量厚度范圍 10~2900um
    適應(yīng)材質(zhì) Si(硅)、Doped-Si(涂層硅)、SiC(碳化硅)、Sapphire(藍(lán)寶石)、GaAs(砷化鎵)、Glass(玻璃)、GaN(氮化鎵)  
    測(cè)量原理 紅外光干涉
    電源 AC220V±10%
    重量 300kg
    噪音 30db
    工作環(huán)境 AC220V±10%


    柏先生/18929339897
    Jeff@effecttek.com
    易泛特技術(shù)（深圳）有限公司
    深圳市寶安區(qū)新橋街道匯聚新橋107創(chuàng)智園B207



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